?    Conductive (傳導(性))、Anodic (陽極的)、Filaments (細絲、細線)

?    導電性細絲物=陽極性玻纖紗式漏電 (短路)

?    玻璃紗束或紗束與樹脂之細縫，造成兩導體出現(xiàn)金屬銅的遷移稱為CAF,離子化金屬向相反電極間移動(陰極向陽極生長)

CAF測試主要評價是PCB基板耐性的一種評估手段，常規(guī)的測試有在線和非在線。

?    孔 V 孔 (Hole to Hole)

?    層 V 層 (Layer to Layer)

?    線路 V 線路 (Line to Line)(梳形電路)

?    孔 V 層 (Hole to Line)

定義

將測試之位置焊上測試線，其測試板暴露在高溫高濕的環(huán)境中，并施加偏壓，觀察絕緣劣化及絕緣電阻值的變化，以測試產(chǎn)品的絕緣阻值是否符合規(guī)格之試驗。

Cisco:65℃/85%RH/96H，10V偏壓、50V量測電壓

Lenovo:50℃/80%RH/24H，15V偏壓、15V量測電壓

Spec:>100MΩ (10⁸Ω)

1測試通道社內(nèi)共計3300通道；

2測試電壓范圍1-1000V；

3測試頻率可滿足200ms測試頻度；

4監(jiān)控品牌：Jras/IMV/ESPEC/Qualtec(社內(nèi)開發(fā))